全范圍測量
傳統的激光掃描方式
激光掃描方式只能測量光點照射的 1 個位置。無法實現多點同時測量或調整傾斜的測量。
VzerQM系列
通過二維測量，可一次捕獲目標物的全部信息。本產品可測量CMOS 上成像的二維影像，因此可進行只有在二維條件下才能進行的任意多點測量或邊調整傾斜邊進行測量。
采用相機方式光軸無波動
傳統的激光掃描方式
多面鏡的鏡面精度不同，每個取樣點的激光掃描軌跡也會不同。在激光掃描方式中，馬達勻速旋轉的性能同馬達的使用時間有關，隨著使用時間變長，馬達勻速旋轉的性能將變差。傳統產品使用時間越長，激光掃描軌跡的偏差就會越大。
VzerQM系列
采用相機方式，閃動一次快門即可測量整個范圍。
產品無驅動器，因此可測量指定點的尺寸。
高耐久性
傳統的激光掃描方式
因為有驅動器，所以產品的耐久性較差，需要對產品進行維護。此外，傳統產品的光源存在被瞬間高電壓損壞的隱患。
VzerQM系列
[ 無驅動器 ]
因產品無任何驅動器，可實現高耐久性。這種設計克服了傳統激光掃描方式的弱點－馬達耐久性的問題。
[ 采用超長壽命的LED ]
光源采用GaN（氮化鎵）LED，不會因瞬間電壓過高而損害光源，實現產品的高耐久性。
傳統原理
通過將半導體激光照射到由馬達帶動旋轉的多面鏡上，來掃描測量范圍。通過統計目標物遮擋激光的時間，來算出目標物的尺寸。